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RESOChron雙年代測試系統(tǒng)激光剝蝕（U-Th）/He熱年代學(xué)可以獲得精確定義的、無缺陷的晶體體積，具有已知的表面積，從而克服了傳統(tǒng)的單顆粒晶體測量方法的兩個(gè)不確定性，能夠?qū)Χ鄠€(gè)礦物顆粒進(jìn)行快速的 -
J200 Femto iX LA 激光燒蝕（LA）是高度成功和久經(jīng)考驗(yàn)的J200 Femto LA儀器的下一步發(fā)展，J200 Femto LA儀器在世界上擁有大的安裝量，能運(yùn)輸氣體控制，自動樣品高度調(diào)節(jié)，高分辨率3D樣品臺，創(chuàng)新的樣品池和LIBS（激光誘導(dǎo)擊穿光譜）附加功能，飛秒可以解決LA-ICP-MS分析的LA儀器。 -
J200 LA-LIBS 激光剝蝕-激光誘導(dǎo)擊穿光譜復(fù)合系統(tǒng)能夠快速而準(zhǔn)確地識別復(fù)雜的LIBS發(fā)射峰，有助于分析人員有效地處理LIBS峰值并獲得定量結(jié)果，從而大大縮短數(shù)據(jù)分析時(shí)間，時(shí)間分辨ICP-MS信號也可以非常流暢， -
J200飛秒激光剝蝕進(jìn)樣系統(tǒng)（LA）的技術(shù)研發(fā)均為美國勞倫斯伯克利國家實(shí)驗(yàn)室的科研人員，研發(fā)的理念就是使元素化學(xué)分析簡單快速化，測量結(jié)果標(biāo)準(zhǔn)化，分析過程綠色化，設(shè)備采用了一種自動調(diào)高傳感器，該傳感器的設(shè)計(jì)考慮到了樣品表面的形態(tài)變化 -
J200飛秒激光剝蝕進(jìn)樣系統(tǒng)用戶在樣品圖像上可任意編輯激光采樣模式，包括光柵線狀、曲線、隨機(jī)點(diǎn)、任意尺寸網(wǎng)格或預(yù)先編制的模式， 長激光脈沖系統(tǒng)產(chǎn)生的樣品顆粒大（常大于數(shù)微米），駐留在輸送管中，導(dǎo)致運(yùn)輸效率低
